手机版 |
产品分类 |
光谱检测分析仪
HORIBA高灵敏一体式荧光光谱仪FluoroMax -
HORIBA模块式荧光光谱仪Fluorolog-3
HORIBA荧光光谱仪Aqualog®
HORIBA 原子力-拉曼联用系统XploRA Nano
HORIBA 多功能拉曼及成像光谱仪XploRA INV
HORIBA 高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪LabRAM Odyssey
HORIBA高灵敏一体荧光光谱仪FluoroMax-4
HORIBA 科研级荧光光谱仪 Fluorolog®-3
HORIBA模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪Fluorolog-QM
OEM光谱仪VS7000
其他测试设备
HORIBA红外碳硫分析仪EMIA-820V
HORIBA可调单色光源Tunable PowerArc
HORIBA探测器IGA array
HORIBA 探测器
HORIBA探测器Synapse CCD
HORIBA在线椭偏仪 In-situ series
HORIBA 智能型多功能椭偏仪Smart SE
HORIBA 表面等离子体共振成像仪OpenPlex
HORIBA一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
HORIBA研究级经典型椭偏仪 UVISEL Plus
元素分析仪
HORIBA 高频红外碳硫分析仪EMIA-Pro
HORIBA 氧氮氢分析仪EMGA-930
HORIBA高频红外碳硫分析仪 EMIA-Pro
HORIBA全新碳硫分析仪 EMIA-Expert
HORIBA氧氮氢分析仪EMGA-Expet
激光粒度仪
HORIBA激光粒度分布分析仪 LA-300
HORIBA激光散射粒径分布分析仪LA-350
HORIBA激光粒度仪 LA960 V2
HORIBA紧凑型激光粒度仪Partica mini LA-350
HORIBA真空紫外光谱仪.VTM300
颗粒图像测试仪
HORIBA粒径分析仪LA-960
HORIBA高分辨超灵敏智能拉曼成像仪 LabRAM Soleil™
纳米粒度仪
HORIBA纳米颗粒分析仪 SZ-100 V2
HORIBA纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000
沉降式粒度仪
HORIBA 离心式粒度分析仪Partica CENTRIFUGE CN-300
zeta电位仪
HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列
联系方式 |
产品系列
产品简介
PGS/PGM 1000光谱仪凭借优异的消像差设计,可实现一机两用,配合单通道探测器作为单色仪,配合CCD使用作为摄谱仪。光路由一片消像差平面光栅和一片超环面镜组成,为紫外光谱分析优化设计。掠入射光路设计将可探测波长拓展到软X射线,与此同时,摄谱仪模式下焦平面垂直于出射光轴,使CCD上接受的光通量大化。
技术特点
HJY的消像差平面光栅结合超环面镜,同时兼顾高分辨率和低像差。
在轴设计,光路易准直。
出射光直射CCD表面,光通量大。
只需更换出射狭缝和法兰,即可实现单色仪和摄谱仪之间的切换,一机两用。
支持超高真空10-9mbar,可接入同步辐射装置。
光谱范围覆盖到4nm,4-16nm具有超高分辨率
典型应用
紫外可调滤波/光源
激光高次谐波
等离子体物理研究
X射线光电子能谱
EUV光源表征
技术指标
三块标准光栅可选 | |
54403130 (仅提供母光栅) | 3600gr/mm 光栅, 光谱范围:4-16nm (77-310 eV) 出射端线色散: 0.2-0.5nm/mm 平均分辨率: 0.05nm |
54402130 | 1800gr/mm 光栅, 摄谱仪模式下 光谱范围:8-32nm(39-155eV) 或 7-32.5nm 出射端线色散:0.04-0.1nm/mm 平均分辨率:0.1nm |
54401130 | 550gr/mm 光栅, 摄谱仪模式下 光谱范围:30-125nm (10-41eV) 或26-126nm 出射端线色散:0.08-0.3nm/mm 平均分辨率:0.3nm |
光学设计 | HJY平面光栅加超环面镜光路设计 |
焦长 | |
孔径 | f/48 |
分辨率 | 低至0.02nm |
波长驱动 | 步进电机,USB2.0接口 |
高真空 | 10-6 mbar |
真空泵法兰 | DN63 LF |
狭缝 | 测微狭缝 |
阵列探测器法兰 | DN100CF/ICF152 |
可选项: | |
狭缝 | 固定或内置可切换狭缝 |
超高真空 | 10-9 mbar配备DN100CF 真空泵法兰和DN40CF真空计法兰 |