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光谱检测分析仪
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HORIBA 高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪LabRAM Odyssey
HORIBA高灵敏一体荧光光谱仪FluoroMax-4
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HORIBA模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪Fluorolog-QM
OEM光谱仪VS7000
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元素分析仪
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激光粒度仪
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纳米粒度仪
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颗粒图像测试仪
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zeta电位仪
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沉降式粒度仪
HORIBA 离心式粒度分析仪Partica CENTRIFUGE CN-300
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产品系列
产品描述
仪器简介:
电子束入射到样品上,即可用光学方法接收并分析阴发光(CL),从而提供样品详细的物理特性。它是一种无损的分析方法,结合电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果,是纳米结构和体材料的独特分析工具。
HCLUE是一款基于反射镜耦合优化的CL系统,结合了Jobin Yvon光谱技术制造的光谱仪模块,具有高灵敏度性能,适用于弱信号测量。可同时配备两个探测器,以获得更大光谱范围。
主要特点:
● 反射镜直接耦合
● 高灵敏度
● 扫描成像、线扫描、点测量
● 多种光栅选项
● 多种焦长光谱仪选项:320mm-550mm
● 可配双探测器以获得大光谱范围:185nm-2500nm
重点应用领域:
阴发光光谱仪(CL)是用来表征材料中的缺陷,元素和杂质追踪的强大分析工具,广泛适用于各个应用领域。
1、材料科学
● 半导体和光电材料
● 介电/陶瓷
● 氧化物膜
● 玻璃
2、矿物、地质
● 碳酸岩
● 晶体
● 金刚石
● 锆石、方解石、白云石
3、生命科学
4、公安
CL光谱及成像:
■CL光谱:使用CL测量光谱时,可在电镜下观察并选择待测样品区域。 | ■快速CL成像:将扫描电子束与您的光谱仪同步,提供快速成像方案。使用HCLUE系统测量的GaN样品,测量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 |
矿物样品中的白云石和磷酸钙。测量使用Flex-CLUE系统,配备iHR320光谱仪和开放电式CCD探测器。感谢Prof A. Jambon, UPMC France提供数据 |
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